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當(dāng)前位置:首頁 > 產(chǎn)品中心 > 泰克Teksight > 示波器 > 6系列 B MSO混合信號(hào)示波器
簡要描述:6系列 B MSO 混合信號(hào)示波器使用 1 GHz 至 10 GHz 帶寬對(duì)高速設(shè)計(jì)進(jìn)行故障排除和驗(yàn)證。通過低噪聲和高達(dá) 50 GS/s 的采樣率獲得準(zhǔn)確的測量結(jié)果。查看 6 通道和 8 通道模型的更多設(shè)計(jì)。
產(chǎn)品分類CLASSIFICATION
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詳細(xì)介紹
品牌 | TeKtronix/美國泰克 | 產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 |
---|---|---|---|
應(yīng)用領(lǐng)域 | 綜合 |
型號(hào) | 模擬帶寬 | 采樣率 | 記錄長度 | 模擬通道 | 數(shù)字通道數(shù) | 函數(shù)發(fā)生器輸出 |
---|---|---|---|---|---|---|
MSO64 | 1 GHz - 8 GHz | 25 GS/s | 62.5 - 250 M 樣點(diǎn) | 4 | 可達(dá) 32 條(可選) | 1 (optional) |
MSO68B | 1 GHz - 10 GHz | Up to 50 GS/s | 62.5 M - 1 G | 8 | Up to 64 (optional) | 1 (optional) |
MSO64B | 1 GHz - 10 GHz | Up to 50 GS/s | 62.5 M - 1 G | 4 | Up to 32 (optional) | 1 (optional) |
MSO66B | 1 GHz - 10 GHz | Up to 50 GS/s | 62.5 M - 1 G | 6 | Up to 48 (optional) | 1 (optional) |
更多通道
4、6 和 8 通道型號(hào)
噪音更低
在所有垂直范圍內(nèi)具有行業(yè)的噪聲性能(滿刻度百分比)
帶寬更高
1-8 GHz 仍然可用。已添加 10 GHz
采樣靈活
2 通道采樣率為 50 GS/s
4 通道采樣率為 25 GS/s
4 通道以上采樣率均為 12.5 GS/s
安全簡化
所有用戶數(shù)據(jù)均存儲(chǔ)于可移動(dòng)固態(tài)硬盤驅(qū)動(dòng)器上
示波器前端 ASIC 芯片 TEK061 實(shí)現(xiàn)超低的本底噪聲。
5 GHz 時(shí)為 12 位分辨率,200 MHz 時(shí)高達(dá) 16 位分辨率
1 mV/div 和 1 GHz 時(shí)的噪聲<55 ?V
50 mV/div 和 10 GHz 時(shí)的噪聲<1.25 mV
獲取 4 條、6 條或 8 條頻譜分析通道。與時(shí)域信號(hào)處理并行的硬件數(shù)字下變頻器 (DDC) 具有強(qiáng)大的功能。
任何模擬通道均可視為波形、頻譜或兩者
射頻頻率或幅度變化時(shí)繪圖和觸發(fā)
頻譜和時(shí)域波形同步以與射頻和時(shí)域事件相關(guān)聯(lián)
頻譜控制(例如中心頻率和 RBW)獨(dú)立于時(shí)域控制
在 GHz 時(shí)鐘與串行總線上輕松檢定抖動(dòng)。通過綜合測量,可將統(tǒng)計(jì)資料納入日常工具包。使用相同的簡單拖放操作即可添加高級(jí)和日常測量。
自動(dòng)化測量與趨勢分析
Spectrum View(頻譜視圖)同步多通道頻譜分析
高級(jí)抖動(dòng)分析
高級(jí)功率分析
低噪聲紋波測量
內(nèi)存分析和調(diào)試
高速串行一致性
通過 4、6 或 8 FlexChannel? 輸入,您可以使用標(biāo)配的 1 GHz 探頭探測電路。可以連接高性能單端有源探頭或者差分探頭,或者通過 TriMode 探頭實(shí)現(xiàn)一個(gè)探頭同時(shí)進(jìn)行單端和差分量測。在任何 FlexChannel 輸入上連接 TLP058 邏輯探頭,并獲得 8 數(shù)字通道,以擴(kuò)展系統(tǒng)的可視性。
內(nèi)置 1 MΩ 至 50 Ω 輸入端
每個(gè)輸入附帶 1 GHz 低負(fù)載無源探頭
TekVPI 探頭與每個(gè)通道的 10W 探頭電源相連接,用于差分信號(hào)、電流、電源軌和光隔離探頭
TDP7700 系列 4、6、8 和 10 GHz TriMode 探頭 - 非常適合測量高速通信
輸入通道
4、6 或 8 FlexChannel 輸入。
每個(gè) FlexChannel 提供一個(gè)模擬信號(hào)輸入或者連接 TLP0581 探頭實(shí)現(xiàn) 8 路數(shù)字邏輯輸入
帶寬1
1、2.5、4、6、8 或 10 GHz
采樣率
2 模擬通道上為 50 GS/s
4 模擬通道上為 25 GS/s
4 以上模擬通道上為 12.5 GS/s
記錄長度 1
在所有模擬/數(shù)字通道上最高為 1 G 樣點(diǎn)
信號(hào)發(fā)生器1
13 種標(biāo)準(zhǔn)波形,加上任意波形
數(shù)字電壓表2
4 位
觸發(fā)頻率計(jì)數(shù)器2
8 位
顯示器
15.6 英寸 (385 mm)
TFT 彩色 HD (1,920 x 1,080) 分辨率電容式(多點(diǎn)觸摸)觸摸屏
1 - 可選且可升級(jí)
2 - 產(chǎn)品注冊后免費(fèi)
將帶寬升級(jí)至 10 GHz
將每條通道上的記錄長度增至 1 G 樣點(diǎn)
增加邏輯探頭,最多時(shí)實(shí)現(xiàn) 64 路數(shù)字通道
添加 Windows 10 操作系統(tǒng)
添加任意波形/函數(shù)發(fā)生器
添加高級(jí)分析:串行解碼/觸發(fā)、電源、抖動(dòng)、存儲(chǔ)器分析和調(diào)試以及自動(dòng)一致性測試
從多種電壓和電流探頭中選擇
每個(gè)通道一個(gè) TPP1000 1 GHz 低電容無源探頭,含附件
前保護(hù)罩與配套包
鼠標(biāo)
電源線
印刷的安裝手冊涵蓋安全和基本操作
全面的內(nèi)置在線幫助
追溯證明
針對(duì)儀器和隨附探頭的 1 年保修
數(shù)字置信度輸入通道4、6 或 8 個(gè) FlexChannel® 輸入每個(gè) FlexChannel 提供:一個(gè)模擬信號(hào),可以顯示為波形視圖、頻譜視圖或同時(shí)顯示為兩者使用 TLP058 邏輯探頭時(shí) 8 個(gè)數(shù)字邏輯輸入帶寬(所有模擬通道)1 GHz、2.5 GHz、4 GHz、6 GHz、8 GHz、10 GHz(可升級(jí))采樣率(所有模擬/數(shù)字通道)實(shí)時(shí):50 GS/s(2 個(gè)通道),25 GS/s( 4 個(gè)通道),12.5 GS/s(> 4 個(gè)通道)插補(bǔ):2.5 TS/s記錄長度(所有模擬/數(shù)字通道)62.5 M 點(diǎn)標(biāo)配125 M 點(diǎn)、250 M 點(diǎn)和 500 M 點(diǎn)或 1 G 點(diǎn)(選配)波形捕獲速率>500,000 個(gè)波形/秒垂直分辨率12 位 ADC高分辨率模式下高達(dá) 16 位標(biāo)準(zhǔn)觸發(fā)類型邊沿,脈沖寬度,欠幅,超時(shí),窗函數(shù),邏輯,建立時(shí)間和保持時(shí)間,上升/下降時(shí)間,并行總線,序列,可視觸發(fā),視頻(可選),射頻對(duì)時(shí)間(可選)輔助觸發(fā) ≤5 VRMS,50Ω,400 MHz(僅邊沿觸發(fā))標(biāo)準(zhǔn)分析光標(biāo):波形,V 條,H 條,V 和 H 條測量:36 項(xiàng)頻譜視圖:頻域分析,獨(dú)立控制頻域和時(shí)域FastFrameTM : 分段內(nèi)存采集模式 , 最大觸發(fā)速率>5,000,000 波形/秒繪圖:時(shí)間趨勢、直方圖、頻譜和相位噪聲數(shù)學(xué):基本波形代數(shù)、FFT 和高級(jí)公式編輯器搜索:搜索任何觸發(fā)標(biāo)準(zhǔn)抖動(dòng):TIE 和相位噪聲選配分析高級(jí)抖動(dòng)和眼圖分析高級(jí)頻譜視圖射頻對(duì)時(shí)間光跡(幅度、頻率、相位)數(shù)字電源管理模板/極限測試逆變器、電機(jī)和驅(qū)動(dòng)器LVDS 調(diào)試和分析PAM3 分析高級(jí)功率測量和分析選配串行總線觸發(fā)、解碼和分析I2C,SPI,I3C,RS-232/422/485/UART,SPMI,CAN,CANFD,LIN,F(xiàn)lexRay,SENT,PSI5,汽車以太網(wǎng),MIPI DPHY , USB 2.0 , eUSB2 , 以太網(wǎng) , 音 頻 , MILSTD-1553,ARINC429,Spacewire,8B/10B,NRZ,Manchester, SVID,MDIO選配串行一致性測試以太網(wǎng),USB 2.0,汽車以太網(wǎng),工業(yè)以太網(wǎng) ,MIPI D-PHY1.2選配內(nèi)存分析DDR3 調(diào)試、分析和一致性測試
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